表面形状観察装置 / JSM-7100F

表面形状観察装置 / JSM-7100F

  • 日本電子社製:JSM-7100F
  • 開放曜日:開校日
  • 開放時間帯:開校時間
  • スペック:
    分解能:1.2 nm
    加速電圧:0.5 ~ 30 kV
    倍率:×10 ~500,000
    試料寸法:Φ150 mm
    試料移動:X方向:70 mm Y方向:50 mm
         (モータ駆動/手動可能)
         Z方向:3 ~ 41 mm
         傾斜:-5゜~ 70°
         回転:360°エンドレス(モータ駆動)
  • 機器の概要:
    表面形状および元素分布を調べる事が可能。
    真空内で分析を行うため試料に一定の制限あり。軽元素の検出は不可。
    分析データの持ち帰りに、CD-RまたはDVD-Rを持参すること。
    CD-RW、DVD-RW、又はCD-RおよびDVD-Rの追記使用は不可。
  • 設置場所:東京千住キャンパス4号館2階40213室
  • 利用目的:研究活動および授業利用
  • 利用方法:
    40705室(東京千住キャンパス4号館7階)前に設置してあるホワイトボードに記入して利用申込を行ってください。
    ※ライセンス未取得者は、当ホームページの予約フォームより申込を行ってください。
    ※ご利用状況に合わせて年間維持費の一部を負担していただきます。
  • 取扱責任者:本橋光也(EC科)