表面形状観察装置 / JSM-7100F

表面形状観察装置 / JSM-7100F

• 日本電子社製：JSM-7100F
• 開放曜日：開校日
• 開放時間帯：開校時間
• スペック：
  分解能：1.2 nm
  加速電圧：0.5 ～ 30 kV
  倍率：×10 ～500,000
  試料寸法：Φ150 mm
  試料移動：X方向：70 mm Y方向：50 mm
  　　　　　（モータ駆動/手動可能）
  　　　　　Z方向：3 ～ 41 mm
  　　　　　傾斜：－5゜～ 70°
  　　　　　回転：360°エンドレス（モータ駆動）
• 機器の概要：
  表面形状および元素分布を調べる事が可能。
  真空内で分析を行うため試料に一定の制限あり。軽元素の検出は不可。
  分析データの持ち帰りに、CD-RまたはDVD-Rを持参すること。
  CD-RW、DVD-RW、又はCD-RおよびDVD-Rの追記使用は不可。
• 設置場所：東京千住キャンパス4号館2階40213室
• 利用目的：研究活動および授業利用
• 利用方法：機器利用予約よりお申し込みください。
  ※ご利用状況に合わせて年間維持費の一部を負担していただきます。
• 取扱責任者：本橋光也（EC科）