東京電機大学分析センターが提供している機器の一覧です。
★★利用には各装置の講習の受講が必要です。★★
東京千住キャンパス
 高速液体クロマトグラフィー | [HPLC] 高速液体クロマトグラフィー Agilent 1260 Series |
 核磁気共鳴 | [NMR] 核磁気共鳴スペクトル測定装置 Bruker AVANCEIIIHD400 |
 電界放出型走査型電子顕微鏡 | [FE-SEM] 表面形状観察装置 JEOL JSM-7100F |
 誘導結合プラズマ発光分析 | [ICP-OES] 誘導結合プラズマ発光分析装置 SHIMADZU ICPE-9820 |
 比表面積/細孔分布測定 | [Surface Area / Pore Size Distribution Measuring System] 自動比表面積/細孔分布測定装置 MicrotracBEL BELSORP-mini II |
 蛍光X線装置 | [XRF] 蛍光X線分析装置 Panalytical Epsilon5 |
 X線光電子分光 | [XPS] X線光電子分析装置 SHIMADZU ESCA-3400 |
 走査型電子顕微鏡 | [SEM] 走査型電子顕微鏡 JEOL JSM-6510A |
 分光感度・量子効率測定 | [Spectral sensitivity / EQE･IPCE Analyzer] 分光感度・量子効率測定装置 分光計器 BQE-100 |
 電子プローブマイクロアナライザ | [EPMA] 電子プローブマイクロアナライザ JEOL JXA-8230 |
 X線回折装置 | [XRD] 卓上型X線回折装置 Rigaku MiniFlex600HR/DUS |
 走査型電子顕微鏡 | [卓上SEM] 卓上走査電子顕微鏡ネオスコープ JEOL JCM-7000 |
 高速液体クロマトグラフ | [HPLC] (低分子用) 高速液体クロマトグラフシステム SHIMADZU CBM-20A |
 熱重量-示差熱分析 | [TG-DTA] 自動試料交換示差熱天秤システム Rigaku TG-DTA8122 |
埼玉鳩山キャンパス
 走査型電子顕微鏡 | [SEM] マルチタッチパネル走査電子顕微鏡 JEOL JSM-6010PLUS/LA |
 高速液体クロマトグラフ | [HPLC] 高速液体クロマトグラフHITACHI Chromaster 5450 Series |
 フローサイトメーター | [FACS] フローサイトメーター BD FACS Melody |
 蛍光顕微鏡 | [Fluorescence Microscope] オールインワン 蛍光顕微鏡 KEYENCE BZ-X800 |
 フーリエ変換赤外分光 | [FTIR] フーリエ変換赤外分光光度計 JASCO FT-IR-4100 |
 マイクロスコープ | [Microscope] デジタルマイクロスコープ KEYENCE VH-5500SP Series |
 走査型プローブ顕微鏡 | [SPM (AFM/STM)] 走査型プローブ顕微鏡 JEOL JSPM-5200 |
 ラマンイメージング | [Raman Imaging] 高速ラマンイメージング RENISHAW inVia Qontor TDO |