走査型プローブ顕微鏡
JEOL JSPM-5200
| 開放曜日 | 月～金 |
| 開放時間 | 10:00〜17:00 |
| 設置場所 | 埼玉鳩山キャンパス11号館2階11205室 |
| 利用目的 | 研究活動および授業利用 |
| 利用方法 | 予約システムより申込 |
| 取扱責任者 | 石井 聡（RU学系） |
本装置は、非常に鋭い探針で試料表面を走査し、高分解能で表面形状や表面の物理特性を観察する顕微鏡です。
コンタクトモード、AC モード、ノンコンタクトモードが標準装備されていますので、試料や目的にあわせて自由に選択できます。
【スペック】
・走査範囲
X、Y軸：0～20μm (標準スキャナ)、分解能 25bit (オフセット含む)
Z軸：0～3μm (標準スキャナ)，分解能 21bit (×32 ゲイン時)
・試料サイズ
最大50mm×50mm×5mmt
※管理の都合により、予約の際は事前に取扱責任者にお問合せください。