電界放出型走査電子顕微鏡
JEOL JSM-7100F
 
 

開放曜日開校日
開放時間開校時間に準じる
設置場所東京千住キャンパス4号館2階40213室
利用目的研究活動および授業利用
利用方法予約システムより申込
取扱責任者本橋光也(EC科)

・表面形状および元素分布を調べる事が可能。
 真空内で分析を行うため試料に一定の制限あり。軽元素の検出は不可。

・分析データの持ち帰りに、CD-RまたはDVD-Rを持参すること。
 CD-RW、DVD-RW、又はCD-RおよびDVD-Rの追記使用は不可。

※利用状況に合わせて維持費の一部を負担していただくことがあります