S08 走査型電子顕微鏡
JEOL JSM-6510A

スペック:
分解能:3.0 nm(30 kV)、8 nm(3 kV)、15 nm(1 kV)
加速電圧:0.5 ~ 30 kV
倍率:×5 ~300,000
試料寸法:Φ150 mm (最大)
※反射電子観測および低真空下での観測はいずれもできません。
| 開放曜日 | 月~金(土曜日は要相談) |
| 開放時間 | 09:30~17:30 |
| 設置場所 | 東京千住キャンパス40213室 |
| 利用目的 | ・研究活動のみ |
| 取扱責任者 | 長澤光晴(b系列) |