S07 X線光電子分光装置
SHIMADZU ESCA-3400

S07 XPS

・固体材料表面の原子結合状態の評価や元素組成を、非破壊で調べることが可能。また、試料の深さ分析が可能。深さは10-500nm程度。ただし、この場合は破壊検査になります。

・分析データの持ち帰りに、CD-RまたはDVD-Rを持参すること。CD-RW、DVD-RW、又はCD-RおよびDVD-Rの追記使用は不可。

※ご利用状況に合わせて年間維持費の一部を負担していただきます。

開放曜日要相談
開放時間要相談
設置場所東京千住キャンパス40213室
利用目的・研究活動のみ
取扱責任者本橋光也(EC科)