S03 表面形状観察装置
JEOL JSM-7100F

・表面形状および元素分布を調べる事が可能。
　真空内で分析を行うため試料に一定の制限あり。軽元素の検出は不可。

・分析データの持ち帰りに、CD-RまたはDVD-Rを持参すること。
　CD-RW、DVD-RW、又はCD-RおよびDVD-Rの追記使用は不可。

※利用状況に合わせて維持費の一部を負担していただくことがあります(2026年度は負担ありません)

開放曜日	開校日
開放時間	開校時間に準ずる
設置場所	東京千住キャンパス40215室
利用目的	・研究活動 ・授業利用
取扱責任者	本橋光也(EC科)